高精度数显测高仪

三丰Litmatic 318系列VL-50-B低测力数显测高仪，是专为超薄、易形变工件研发的亚微米级精密检测设备，针对光学胶片、锂电池极片、塑胶薄膜、软质密封垫片、微型电子元件等测力敏感型工件量身打造，有效解决普通千分尺、常规高度规测力过大挤压工件，造成尺寸测量数据失真的行业难题，广泛适配半导体、新能源、光学制造、精密零部件加工等行业实验室与产线质检场景。

该设备最核心的优势是可调式恒定低测力系统，测力区间覆盖0.01N至1.0N，多档位可自由切换，操作人员能根据工件软硬度灵活匹配测量压力，规避柔性材料受压凹陷、变形问题，精准还原工件真实厚度与高度尺寸，是软质薄片检测不可替代的精密仪器。整机标准测量量程50mm，测量分辨率支持10μm、1μm、0.01μm三档自由切换，实现稳定的亚微米级测量精度，能够满足零部件严苛的微米级公差检测标准。

设备结构设计兼顾稳定性与操作性，搭配高精度大理石基座，平整度高、不易受外力震动干扰，大幅提升多次重复测量的数据一致性。分体式数显读数单元屏幕清晰直观，实时反馈测量数值，上手门槛低，新员工也可快速熟练操作。同时设备可配套LG QuickSetupTool数据处理软件，自动采集、存储批量检测数据，一键导出检测报表，方便企业完成质检记录归档、出货检测溯源工作。

机身采用防尘防护结构，适配恒温计量室、无尘洁净车间长期不间断作业，整机出厂完成全套精度校准，开箱即可投入使用。区别于通用型测量设备，VL-50-B精准聚焦超薄软质工件测量场景，可搭配三丰厚度表、数显千分尺、粗糙度仪等量具，搭建全套精密尺寸检测方案，为制造业提供稳定、高精度的厚度与高度测量解决方案。

三丰Litmatic 318系列VL-50-B低测力数显测高仪，是专为超薄、易形变工件研发的亚微米级精密检测设备，针对光学胶片、锂电池极片、薄膜、软质密封垫片、微型电子元件等测力敏感型工件量身打造，有效解决常规量具压力过大挤压工件、测量数据失真的行业难题，广泛应用半导体、新能源、光学镜片、精密加工实验室质检场景。